Laboratoriumsmethoden und -geräte, elektronenmikroskopische Technik, bei der ein fokussierter Elektronenstrahl über ein durchstrahlbares Präparat gerastert wird. Vom Präparat nicht gestreute und vorwiegend inelastisch gestreute Elektronen werden nur kleine Winkel mit der Strahlachse aufweisen und treffen auf sog. Hellfelddetektoren. Die elastisch gestreuten Elektronen werden im allgemeinen in einem grösseren Winkel zur Strahlachse zu finden sein und werden im Dunkelfelddetektor nachgewiesen. Hell- und Dunkelfelddetektoren bestehen aus Szintillatorkristallen. Das durch die Elektronenbestrahlung entstehende Licht wird zu einem Photomultiplier geleitet und dort nachgewiesen. Dieses Verfahren ist der Transmissionselektronenmikroskopie sowohl bei der Elektronenbeugung als auch bei der Abbildung des Phasenkontrastes (Phasenkontrastmikroskopie) deutlich unterlegen. Seine Stärke ist der fein fokussierte Elektronenstrahl zur Analyse des Präparates mit hoher Ortsauflösung.
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