Oberflächen- und Grenzflächenphysik, vor allem bei Halbleitern angewandtes Modulationsspektrokopieverfahren, bei dem die Veränderung des Reflexionsspektrums einer Oberfläche unter gleichzeitiger Beleuchtung gemessen wird. Physikalischer Hintergrund des Effekts ist der durch das elektrische Feld der optisch generierten Ladungsträger ausgelöste Franz-Keldysh-Effekt.
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