Verfahren zur Strukturabbildung von Festkörpern mit periodischer Anordnung der Gitteratome (Einkristallen). Hierbei wird ausgenutzt, dass Ionen, die an einem auf einem Gitterplatz befindlichen Kern um grosse Winkel gestreut werden, das Streuzentrum praktisch an dessen Gitterplatz verlassen. Für den kritischen Winkel, ab dem dieser Effekt auftritt, gilt , wobei Zi die Ordnungszahlen des emittierenden bzw. streuenden Atoms sind, e die Elementarladung, e0 die Dielektrizitätskonstante, E die Energie des emittierten Ions und d der Gitterabstand sind.
Wenn man zur Aufzeichnung der gestreuten Ionen (die gebündelt auf den Kristall gestrahlt wurden) Photoplatten verwendet, erhält man infolge der Blockierung der Ionenbahnen längs ausgezeichneter Kristallrichtungen punkt- und linienförmige »Schatten«, die den Schnittpunkten bzw. -linien der Kristallachsen und -ebenen mit der Photoplatte entsprechen. Aus diesen Schatteneffekten (= Abweichungseffekte von der Rutherford-Streuung in Richtung der Kristallhauptachsen und -flächen bei Bestrahlung von Einkristallen mit Ionen) lässt sich die Lage eben dieser Kristallachsen und Netzebenen mit grosser Genauigkeit ausmessen. Aus den erzeugten Ionogrammen kann man auch den Gittertyp, die Orientierung des Kristalls und Kristallbaufehler sehr genau bestimmen.
Bei Verwendung von Protonen statt Ionen spricht man von Protonographie bzw. Protonogrammen.
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