Techniklexikon

Polarisationsmikroskopie

Laboratoriumsmethoden und -geräte, lichtmikroskopisches Verfahren zur Untersuchung doppelbrechender Materialien. Zwischen Polarisator und Analysator in Kreuzstellung wird ein doppelbrechendes Präparat eingeführt. Das einfallende linear polarisierte Licht wird im Präparat in zwei orthogonale Teilstrahlen, dem ordentlichen und dem ausserordentlichen, aufgespaltet. Beide Teilstrahlen erfahren i.a. jeweils eine unterschiedliche Brechung; es ergibt sich eine Phasendifferenz von , wobei l die Vakuumwellenlänge, n_o und n_e die Brechungsindizes für den ordentlichen und den ausserordentlichen Strahl und d die Dicke des Präparates sind. Für den Fall, dass die Einfallsrichtung des linear polarisierten Strahls mit einer der optischen Kristallachsen übereinstimmt, sieht der ausserordentliche Strahl denselben Brechungsindex wie der ordentliche. Die Überlagerung der phasenverschobenen Teilstrahlen ergibt eine Drehung der Polarisationsebene. Für die Intensität nach dem Analysator gilt nach der Fresnelschen Formel . Aus dieser Formel kann abgeleitet werden, dass bei einer sukzessiven Drehung des Präparates um einen Winkel von j = 45 ° die Intensität jeweils von einem Extremwert zum nächsten wechselt (Minimum  Maximum etc.). Geometrisch gesprochen ergibt sich immer dann eine Auslöschung durch den gekreuzten Analysator, wenn die ursprüngliche Polarisationsrichtung beibehalten wird, also eine Kristallachse parallel zum einfallenden Strahl zu liegen kommt. Mit dieser Kenntnis lassen sich doppelbrechende Materialien einem Kristallsymmetrietyp zuordnen.