spezielle Technik der Elektronenmikroskopie (Elektronenmikroskop), die neben der Intensität (oder Amplitude) der Elektronenwelle auch Phaseninformationen ergibt, die insgesamt eine höhere Auflösung als bei konventionellen Techniken erlauben. Das zu untersuchende Objekt wird dazu in einen Teilstrahl des Elektronenmikroskops gebracht. Der ungestörte Teilstrahl und der durch das Objekt veränderte Teilstrahl werden anschliessend mit einem Elektronen-Biprisma in der Bildebene überlagert. Wie bei der Holographie mit Licht kommt es zu Interferenz der Referenzwelle und der Objektwelle. Das Interferenzmuster enthält neben der Amplitude auch Informationen über die Phase der Objektwelle, die in der Praxis meist über elektronische Bildverarbeitung direkt in ein Bild des Objekts umgewandelt werden.
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