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Techniklexikon

Diffusionsprofil

Autor
Autor:
Karl-Wilhelm Steinfieber

Verteilung der Dotanten im Halbleiter, die bei der Dotierung durch Diffusionsverfahren entsteht und die das Dotierungsprofil mitbestimmt. Bei Hochtemperaturschritten (Diffusionsverfahren, Oxydation) werden die Dotanten in die Kristalltiefe verteilt. Dotantenvertei-lungen mit der Lage der Maximalkonzentration in der Kristalltiefe sind durch Epitaxie nach Diffusionsdotierung möglich (SBC-Verfahren).

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