Verfahren zur Abbildung der Topologie einer Probe mit dem Rastertunnelmikroskop. Die Tunnelspitze wird dabei in konstanter Höhe über die Probe geführt. Die gemessene Veränderung des Tunnelstroms wird topologisch dargestellt. Diese Art der rastertunnelmikroskopischen Beobachtung ist gut geeignet für hinreichend flache Proben, bei denen die Tunnelspitze nirgends die Probe berührt und auch noch der Nahfeldkontakt überall erhalten bleibt. (Constant-Current-Mode)
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