Hochvoltelektronenmikroskopie
Autor:
Martina Wagner
Martina Wagner
HVEM, Elektronenmikroskopie mit einer Beschleunigungsspannung von etwa 1 MeV. Hauptanwendungsgebiet der HVEM ist die Darstellung dicker, mit einem gewöhnlichen Transmissionselektronenmikroskop bei einer Beschleunigungsspannung von 60-100 kV nicht oder nur schlecht durchstrahlbarer Präparate. Typisches Anwendungsgebiet sind die Werkstoffwissenschaften.
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