die Frequenzabhängigkeit des Absorptionsvermögens von Halbleitern, insbesondere bei elektromagnetischer Strahlung. Durch kontinuierliche Messung der Absorption z.B. von Mikrowellen (Zyklotronresonanz) können wesentliche Aufschlüsse über die physikalischen Vorgänge im Inneren des Halbleiters und dessen elektronische und phononische Struktur gewonnen werden. Aus der Lage der Absorptionsmaxima im Spektrum kann die reziproke Masse für Elektronen und/oder Löcher bestimmt werden.
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