Generations-Rekombinationsrauschen
Hermann Loring
Elektronik, Halbleiterphysik, Ladungsträgerdichteschwankungen infolge der Vorgänge bei der Erzeugung und der Vernichtung von Elektron-Loch-Paaren in einem Halbleiter. Sie führen zu einem statistisch schwankenden elektrischen Leitwert. Durch diesen wird beim Anlegen eines elektrischen Feldes ein Rauschstrom erzeugt. Im einzelnen hängt dieses Rauschen davon ab, ob es sich um einen eigenleitenden oder dotierten Halbleiter handelt und von welcher Art die Struktur des Halbleiterbauelementes ist.
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